【厦门阿米控技术有限公司】：
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自上世纪50年代以来，随着微电子技术、通信技术及计算机网络技术的发展和大规模集成电路的广泛应用，电子设备数字电路故障维修越来越复杂，测试难度越来越大。与此同时，数字电路的测试与诊断研究也取得了突破性的进展，属于组合电路测试生成算法的伪穷举法、布尔差分法、特征分析法、随机测试法、D前沿敏化法以及因果函数法，属于时序电路测试生成算法的时间帧展开方法和基于仿真的方法等，使数字系统的诊断理论趋于完善。但数字电路故障诊断的计算工作复杂，测试开销巨大，在工程实践中仍存在很多困难。因此，如何利用这些理论和测试方法更好更快地进行故障诊断，是目前亟待解决的问题。自动测试设备（ATE）的发展是测试技术的一次革命，带来了测试设备的成熟，为测试诊断理论在工程应用上提供了新的前景。
航天测控公司针对数字电路自动测试系统的开发需求，数字电路中较为复杂的时序电路测试为侧重点，将含有CPU、FPGA等的数字电路作为测试对象，结合目前常用的时序电路仿真方法，成功研制一套基于PXI总线技术的便携式自动测试系统（HTEDS8300便携式PXI总线数字电路板测试诊断系统）。该系统具备性价比高、体积小、易携带、TPS开发难度小等特点，适用于军用和民用领域的半导体、航天/国防、通讯才消费电子产品的设计验证、测试和维修。下面具体介绍HTEDS8300便携式PXI总线数字电路板测试诊断系统的软硬件组成和特点，并应用该系统实现对含有CPU的数字电路板的自动测试。
【部分型号】
DRUE2400SPAR
VACON NXS00075A5H1SSSA1A3000000
Sick 30-FGS FGSE1200-22
Festo DGSL-25-80-P1A
Allen Bradley VPL-B1003T-PK12AA
1115-403-1-00
090S-MF1-10-0G1-3S
SEW MDX61B0022-5A3-4-00
Allen Bradley 2094-BM01-M
Parker ACM2n0220-4/1-3
CMMSSTC87G2
Telemecanique TSX17 TSX 172 4012
MC07B0030-5A3-4-00 / FSC11B
Sick WEU26/3-103A00
Sick M40Z-025023RB0
Siemens 3VL9400-3MQ00
Euchner MGB-L1-APA-AA6A1-S3-R-110585
Festo VTSA-F-FB 547965 Ventilinsel + CPX-M-FB34 548751
Festo SLT-20-50-P-A
Siemens VL400 3VL4740-2AA36-0AA0
